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EUV光刻太貴了:替代技術(shù)正加快速度轉(zhuǎn)正

導(dǎo)讀 隨著芯片法案宣布將補(bǔ)貼美國(guó)半導(dǎo)體研發(fā)和制造500多億美元,人們對(duì)芯片制造技術(shù)的基本現(xiàn)狀產(chǎn)生了極大的興趣。目前,三星5納米工藝(指定為5LP

隨著芯片法案宣布將補(bǔ)貼美國(guó)半導(dǎo)體研發(fā)和制造500多億美元,人們對(duì)芯片制造技術(shù)的基本現(xiàn)狀產(chǎn)生了極大的興趣。

目前,三星5納米工藝(指定為5LPE)就是向全球市場(chǎng)提供先進(jìn)芯片制造技術(shù)的其中之一,這代表了三星finFET技術(shù)取得了重大突破,未來勢(shì)必會(huì)更進(jìn)一步,以更低的成本在芯片上放置更多的晶體管,同時(shí)提供更高的性能。

在芯片上刻出超細(xì)特征所需的先進(jìn)光刻技術(shù)是實(shí)現(xiàn)這些進(jìn)步的主要推動(dòng)者。

半導(dǎo)體光刻技術(shù)的起源與發(fā)展

光刻是半導(dǎo)體工業(yè)的核心技術(shù)。自1960年Fairchild Semiconductor的羅伯特·諾伊斯發(fā)明單片集成電路以來,光刻一直是主要的光刻技術(shù)。

光刻技術(shù)本質(zhì)上是,掩膜版用于對(duì)光刻膠進(jìn)行圖案化,從而實(shí)現(xiàn)圖案化沉積和蝕刻工藝。光刻工藝的最終分辨率由所用光源的波長(zhǎng)決定。

在短波長(zhǎng)光刻源的開發(fā)方面取得的進(jìn)展,使得以摩爾定律為特征的電路密度不斷增加。在過去光刻所需光源是Mercury discharged lamps,例如365nm時(shí)期采用的i-Line,但最近KrF為248nm或ArF為193nm的準(zhǔn)分子激光器成為了首選光源。

采用浸潤(rùn)式光刻技術(shù),需要將透鏡和芯片浸沒在折射率比空氣高的水中,由此ArF激光器獲得的最終分辨率約為50nm。

過去二十年,193nm波長(zhǎng)的光刻技術(shù)得到了發(fā)展。雖然使用F2準(zhǔn)分子激光的157nm光刻技術(shù)取得了一些突破,但人們主要關(guān)注的還是使用13.5nm軟X射線作為光源的極紫外(EUV)光刻技術(shù)。

荷蘭ASML在EUV技術(shù)的研發(fā)中發(fā)揮了主導(dǎo)作用,目前其EUV設(shè)備主要被包括英特爾、三星和臺(tái)積電在內(nèi)的先進(jìn)CMOS代工廠用于生產(chǎn)。

實(shí)踐中的光刻方法

許多光刻方法被應(yīng)用于制造單個(gè)芯片設(shè)計(jì),TechInsights最近對(duì)三星5LPE工藝進(jìn)行了詳細(xì)分析。圖2顯示了CPU邏輯區(qū)域中柵極和鰭片布局的平面圖TEM圖像。

圖2 三星 5LPE Gate和Fin Layout

自對(duì)準(zhǔn)四重構(gòu)圖(SAQP)幾乎可以肯定地用于對(duì)鰭片進(jìn)行構(gòu)圖,鰭片心軸的大致位置如圖所示,該心軸本應(yīng)使用ArF 193 nm浸沒(ArF 193i)光刻法進(jìn)行圖案化,通過在心軸上形成側(cè)壁間隔件,進(jìn)而形成最終的鰭片圖案。

心軸的間距為108納米,然后將心軸移除,使用第一側(cè)壁間隔物圖案來創(chuàng)建第二組側(cè)壁間隔件,最終給出27nm的鰭片間距。

兩組側(cè)壁間隔物的大致位置和尺寸如圖3所示,這是一張橫截面TEM圖像,顯示了邏輯區(qū)域中三星5LPE工藝的27nm間距鰭片結(jié)構(gòu)。

圖3 三星 5LPE Fin Cross Section

使用有源鰭片切割掩膜去除不需要的鰭片,并用淺溝槽隔離(STI)代替它們。圖2所示的金屬柵極很可能是使用自對(duì)準(zhǔn)雙圖案化(SADP)技術(shù)形成的,其中心軸上的側(cè)壁間隔物直接用于圖案化多晶硅柵極,再用金屬柵極取代。

目前正在制造的先進(jìn)半導(dǎo)體器件的尺寸明顯小于用ArF浸沒光刻法獲得的約50 nm最小半間距,這就需要開發(fā)越來越復(fù)雜的工藝技術(shù)。例如,根據(jù)最近TechInsights分析的結(jié)果,三星5 nm LPE工藝使用了多種先進(jìn)的光刻方法,包括EUV.

SAQP光刻技術(shù)可以產(chǎn)生非常精細(xì)的間距特征,但僅限于創(chuàng)建單向定向的單軸結(jié)構(gòu),且線路末端需要特殊的切割掩膜,以防止相鄰線路之間短路。EUV光刻沒有這些限制,但成本更高。

圖4顯示了三星5LPE設(shè)備CPU邏輯區(qū)中金屬0布局的平面圖TEM顯微照片,觀察到的最小金屬間距約為44nm。此外,布局包括在兩個(gè)正交方向上定向的線,如果使用SADP或SAQP ArF 193i光刻方法,通常不可能產(chǎn)生這種情況。

圖4 三星5LP Metal 0 Layout

納米壓印和直接自組裝光刻

EUV設(shè)備和工藝極其復(fù)雜和昂貴,因此業(yè)界一直在研究替代方案。三個(gè)主要競(jìng)爭(zhēng)者是:

- 納米壓印光刻(NIL)

- 直接自組裝(DSA)光刻

- 電子束光刻(EBL)

雖然EBL提供非常高的空間分辨率(優(yōu)于10nm),但配置和執(zhí)行速度較慢,本文將不再進(jìn)一步討論。EBL確實(shí)可以商業(yè)應(yīng)用,但不適用于大批量的先進(jìn)節(jié)點(diǎn)制造。

納米壓印光刻最早由明尼蘇達(dá)大學(xué)的Stephen Chu提出,該技術(shù)基于聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)的壓縮成型。Chu和他的合著者于1995年發(fā)表了開創(chuàng)性的專利US5772905A,并在1996年《科學(xué)》雜志的一篇論文中報(bào)道了25納米分辨率的圖案化。

2003年,NIL技術(shù)被添加到ITRS路線圖中,這是一個(gè)不斷研發(fā)的領(lǐng)域。佳能是全球光刻機(jī)的主要供應(yīng)商之一,他們現(xiàn)在提供NIL產(chǎn)品線,東芝是他們的早期客戶之一,其中提出的應(yīng)用是NAND閃存生產(chǎn)。

直接自組裝光刻是指嵌段共聚物在預(yù)圖案化襯底上的直接取向,該技術(shù)類似于SADP和SAQP,使用更粗的間距模板來創(chuàng)建更細(xì)的間距結(jié)構(gòu)。DSA技術(shù)于20世紀(jì)90年代首次提出,并于2007年成為ITRS路線圖的一部分,IMEC的一個(gè)研究小組是其主要支持者,2021年他們使用DSA演示了18 nm間距線型的形成。

據(jù)TechInsights所知,任何一家大型半導(dǎo)體制造商都尚未采用直接自組裝進(jìn)行大批量生產(chǎn),雖然在過去的二十年里,這項(xiàng)技術(shù)已經(jīng)有了相當(dāng)多的研發(fā)和專利活動(dòng),但還沒有商業(yè)用途。

探索專利中的先進(jìn)光刻技術(shù)創(chuàng)新

TechInsights與Cipher合作,一直在探索先進(jìn)光刻市場(chǎng)的創(chuàng)新。目前,基于光學(xué)光刻的技術(shù)主導(dǎo)半導(dǎo)體市場(chǎng),ArF 193i是用于圖案化精細(xì)間距特征的主要方法,而基于EUV的光刻技術(shù)開始出現(xiàn)在最先進(jìn)的CMOS技術(shù)中,如前一節(jié)討論的三星5LPE。

不幸的是,EUV方法非常昂貴,而且ASML交付EUV光刻機(jī)可能存在供應(yīng)鏈問題。TechInsights預(yù)計(jì)該行業(yè)將積極尋求替代方案,Cipher一直在與TechInsights合作開發(fā)專利分類器,用于監(jiān)控特定領(lǐng)域的創(chuàng)新步伐,如EUV、NIL和DSA光刻。

Cipher專利分類器已經(jīng)允許TechInsights繪制EUV, NIL和DSA先進(jìn)光刻專利的景觀。圖5顯示了按技術(shù)排序的前5家專利機(jī)構(gòu)。

圖5 Top 5 Companies by NIL, EUV and DSA Patent Holdings

這張圖表展示了:

- 佳能顯然在NIL技術(shù)上下了很大賭注

- ASML在EUV方面投入最多,但也積極參與NIL和DSA研究

- 從先進(jìn)的光刻技術(shù)研發(fā)角度來看,臺(tái)積電顯然屬于領(lǐng)先的代工廠。他們?cè)贓UV方面投資最多,但在NIL和DSA方面也很活躍

- 排名第五的三星也在對(duì)沖賭注,盡管他們的專利活動(dòng)水平遠(yuǎn)低于臺(tái)積電

- 蔡司(Karl Zeiss)位列第四,毫不奇怪,作為光刻供應(yīng)商,他們主要關(guān)注點(diǎn)是EUV

該表沒有顯示包括GlobalFoundries、IBM和Intel在內(nèi)的北美主要組織,因?yàn)樗麄冊(cè)谂判邪裆吓琶亢?,分別位列第16、17和32位。

結(jié)論

先進(jìn)的光刻技術(shù)對(duì)于摩爾定律縮放的延續(xù)至關(guān)重要。目前業(yè)界認(rèn)為,EUV加上先進(jìn)的193i技術(shù),如SADP和SAQP,將能夠繼續(xù)擴(kuò)展到上述5納米技術(shù)以下。

但是由于EUV依賴使用極其復(fù)雜和昂貴的設(shè)備,因此該行業(yè)繼續(xù)尋找替代品,如NIL或DSA,這可能提供一條替代的前進(jìn)道路。

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文章來源:快科技

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